Qu‘est-ce que l’analyse par fluorescence X ?

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Analyse par fluorescence des rayons X (XRF)

La spectroscopie par fluorescence X (spectroscopie XRF) est une méthode courante et éprouvée dans le vaste domaine de l’analyse des matériaux. Le principe de l’analyse par fluorescence des rayons X trouve son origine dans la fluorescence des rayons X. Cette méthode est l’une des plus utilisées pour la détermination quantitative et qualitative de la composition élémentaire d’un analyte. Le grand avantage est l’analyse non destructive, ce qui signifie que les échantillons ne sont pas endommagés au cours des mesures et qu’aucune digestion n’est nécessaire pour obtenir un bon résultat. La limite de détection est d’environ un microgramme/gramme (ppm). En soi, seuls les échantillons solides sont examinés dans cette forme d’analyse. Les liquides peuvent également être analysés s’ils se trouvent dans un récipient en plastique à fond mince. Dans la plupart des cas, on utilise des échantillons solides, qui sont préparés sous la forme d’un disque rond d’un diamètre de 2 cm à 5 cm. De plus, l’analyte a besoin d’une surface plane pour que les rayons X puissent être réfléchis.

L’application de l’analyse par fluorescence des rayons X

Le XRF est particulièrement utilisé dans tous les domaines de l’industrie métallurgique et dans l’étude des céramiques. Le XRF est également utilisé dans l’analyse des matériaux de construction et du verre et dans l’analyse des lubrifiants et des produits pétroliers.

L’analyse par fluorescence X est également très populaire pour l’achat d’or et l’analyse d’œuvres d’art en raison de sa méthode conviviale pour les échantillons. Avec l’or, la finesse exacte d’un échantillon peut être déterminée, ce qui est d’une importance capitale surtout en période de changement constant du prix de l’or. L’analyse par fluorescence X offre une certitude superficielle et une clarification de la teneur en or réelle. L’investigation d’objets d’art vise principalement à obtenir un résultat rapide et fiable. Si, par exemple, une peinture complète est examinée dans le cadre d’une analyse par fluorescence aux rayons X, les pigments individuels peuvent être identifiés et la distribution des divers éléments chimiques peut être représentée sur l’image.

Limites de l’analyse par fluorescence des rayons X

Malheureusement, la procédure XRF ne peut pas être appliquée aux éléments plus légers que le bore. Seul le fluor peut être utilisé pour des valeurs raisonnablement bonnes et le sodium pour des valeurs plutôt bonnes. Ceci est dû au fait que le rayonnement des rayons X des éléments plus légers est absorbé trop facilement et ne peut donc pas pénétrer dans le détecteur.

Fournisseurs ayant coopéré

Notre[FP]-LIMS est compatible avec un grand nombre de fabricants bien connus dans l’industrie. Grâce à des années d’expérience et aux exigences élevées que nous nous imposons, nous avons de plus en plus étendu la compatibilité du logiciel au cours des dernières années. Entre autres, les appareils des fabricants suivants sont compatibles avec nos Fink & Partner[FP]-LIMS : Hitachi, Bruker, Spectro Ametek, ThermoFisher Scientific, Agilent Technologies, analytikjena, Horiba Scientific, Malvern Panalytical, Microtrac, PerkinElmer et Zwick Roell.

Dans le cas particulier de l’analyse par fluorescence X, nous coopérons avec les marques Hitachi, Spectro / Ametek, Bruker, Thermo Fisher et Malvern Panalytical.

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